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  Insight into CuInS2 thin films by electron microscopy

Frank, A., Wochnik, A. S., & Scheu, C. (2016). Insight into CuInS2 thin films by electron microscopy. Poster presented at European Microscopy Conference (EMC), Lyon, France.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Frank, Anna1, Autor           
Wochnik, Angela S.2, Autor           
Scheu, Christina3, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2Department of Chemistry, LMU Munich, Germany, ou_persistent22              
3Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: European Microscopy Conference (EMC)
Veranstaltungsort: Lyon, France
Start-/Enddatum: 2016-08-28 - 2016-09-02

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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