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  Correlating Atom Probe Tomography with Atomic-Resolved Scanning Transmission Electron Microscopy: Example of Segregation at Silicon Grain Boundaries

Stoffers, A., Barthel, J., Liebscher, C., Gault, B., Cojocaru-Mirédin, O., Scheu, C., et al. (2017). Correlating Atom Probe Tomography with Atomic-Resolved Scanning Transmission Electron Microscopy: Example of Segregation at Silicon Grain Boundaries. Microscopy and Microanalysis, 23(2), 291-299. doi:10.1017/S1431927617000034.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

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88b_Stoffers-_div_class__title__Correlating_Atom_Probe_Tomography_with_Atomic-Resolved_Scanning_Transmission_Electron_Microscopy__Example_of_Segregation_at_Silicon_Grain_Boundaries__div_.pdf (Verlagsversion), 14MB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
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Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Iron Research, MDES; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stoffers, Andreas1, 2, Autor           
Barthel, Juri3, 4, Autor           
Liebscher, Christian5, Autor           
Gault, Baptiste6, Autor           
Cojocaru-Mirédin, Oana1, 7, Autor           
Scheu, Christina8, Autor           
Raabe, Dierk1, Autor           
Affiliations:
1Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
2Institute of Physics (IA), RWTH Aachen University, Otto-Blumenthal-Straße, 52074 Aachen, Germany, ou_persistent22              
3Central Facility for Electron Microscopy, RWTH Aachen University, Ahornstraβe 55, 52074 Aachen, Germany, ou_persistent22              
4Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich GmbH, 52425 Jülich, Germany, ou_persistent22              
5Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
6Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
7I. Physikalisches Institut (IA), RWTH Aachen, 52074 Aachen, Germany, ou_persistent22              
8Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-02-202017-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927617000034
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Kurztitel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 23 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 291 - 299 Identifikator: ISSN: 1431-9276
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042731793414