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  Correlating Atom Probe Tomography with Atomic-Resolved Scanning Transmission Electron Microscopy: Example of Segregation at Silicon Grain Boundaries

Stoffers, A., Barthel, J., Liebscher, C., Gault, B., Cojocaru-Mirédin, O., Scheu, C., & Raabe, D. (2017). Correlating Atom Probe Tomography with Atomic-Resolved Scanning Transmission Electron Microscopy: Example of Segregation at Silicon Grain Boundaries. Microscopy and Microanalysis, 23(2), 291-299. doi:10.1017/S1431927617000034.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-A6A6-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6C9F-4
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Stoffers, Andreas1, 2, 著者           
Barthel, Juri3, 4, 著者           
Liebscher, Christian5, 著者           
Gault, Baptiste6, 著者           
Cojocaru-Mirédin, Oana1, 2, 著者           
Scheu, Christina7, 著者           
Raabe, Dierk1, 著者           
所属:
1Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
2I. Physikalisches Institut (IA), RWTH Aachen, 52074 Aachen, Germany, persistent22              
3Central Facility for Electron Microscopy, RWTH Aachen University, Ahornstraβe 55, 52074 Aachen, Germany, persistent22              
4Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich GmbH, 52425 Jülich, Germany, persistent22              
5Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
6Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
7Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2017-02-202017-04
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1017/S1431927617000034
 学位: -

関連イベント

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Microscopy and Microanalysis
  省略形 : Microsc. Microanal.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 23 (2) 通巻号: - 開始・終了ページ: 291 - 299 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1431-9276
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042731793414