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  Topological Impurity Segregation at Faceted Silicon Grain Boundaries Studied by Correlative Atomic-Resolution STEM and APT

Liebscher, C., Stoffers, A., Cojocaru-Mirédin, O., Gault, B., Scheu, C., Dehm, G., et al. (2016). Topological Impurity Segregation at Faceted Silicon Grain Boundaries Studied by Correlative Atomic-Resolution STEM and APT. In Microscopy and Microanalysis (pp. 46-47).

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Liebscher, Christian1, Autor           
Stoffers, Andreas2, Autor           
Cojocaru-Mirédin, Oana2, Autor           
Gault, Baptiste3, Autor           
Scheu, Christina4, Autor           
Dehm, Gerhard5, Autor           
Raabe, Dierk6, Autor           
Affiliations:
1Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
2I. Physikalisches Institut (IA), RWTH Aachen, 52074 Aachen, Germany, persistent22              
3Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
4Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
5Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              
6Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-11
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927616012253
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 3rd Conference on In Situ and Correlative Electron Microscopy (CISCEM 2016)
Veranstaltungsort: Saarbrücken, Germany
Start-/Enddatum: 2016-10-11 - 2016-10-12

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 22 (S5) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 46 - 47 Identifikator: -