A Novel Potentiometric Approach to a Quantitative Characterization of Oxygen 
Reduction Kinetics at Buried Interfaces

Rohwerder, Michael; Dandapani, Vijayshankar

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A Novel Potentiometric Approach to a Quantitative Characterization of Oxygen Reduction Kinetics at Buried Interfaces

Rohwerder, M., & Dandapani, V. (2016). A Novel Potentiometric Approach to a Quantitative Characterization of Oxygen Reduction Kinetics at Buried Interfaces. Talk presented at 11th International Symposium on Electrochemical Micro & Nanosystem Technologies (EMNT2016). Brussels, Belgium. 2016-08-17 - 2016-08-19.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-AD93-A 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-2A0F-2

資料種別: 講演

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作成者:
Rohwerder, Michael¹, 著者
Dandapani, Vijayshankar¹, 著者

所属:
1Corrosion, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2074315

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言語: eng - English

日付: 作成: 2016-08

出版の状態: 不明

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