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Atom probe microscopy: a new playground for big data analysis?

Gault, B., & Katnagallu, S. (2016). Atom probe microscopy: a new playground for big data analysis?. Talk presented at Workshop Big-Data-Driven Materials Science, Ringberg Castle. Rottach, Germany. 2016-07-27 - 2016-07-30.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C587-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C588-6

資料種別: 講演

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作成者

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作成者:
Gault, Baptiste¹, 著者
Katnagallu, Shyam¹, 著者

所属:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384

内容説明

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 作成: 2016-07

出版の状態: 不明

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: -

学位: -

関連イベント

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イベント名: Workshop Big-Data-Driven Materials Science, Ringberg Castle

開催地: Rottach, Germany

開始日・終了日: 2016-07-27 - 2016-07-30

招待講演: 招待

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