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  Aberration-Corrected PEEM and LEEM Surface Science Applications

Marchetto, H. (2017). Aberration-Corrected PEEM and LEEM Surface Science Applications. Talk presented at ASEAN Workshop on Photoemission Electron Spectroscopy and Microscopy (AWPESM2017). Nakhon Ratchasima, Thailand. 2017-05-29 - 2017-05-31.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-CBFA-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-CBFB-0
Genre: Vortrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Marchetto, Helder1, Autor           
Affiliations:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

Inhalt

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Details

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Veranstaltung

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Titel: ASEAN Workshop on Photoemission Electron Spectroscopy and Microscopy (AWPESM2017)
Veranstaltungsort: Nakhon Ratchasima, Thailand
Start-/Enddatum: 2017-05-29 - 2017-05-31
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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