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  Towards a Quality Metric for Dense Light Fields

Adhikarla, V. K., Vinkler, M., Sumin, D., Mantiuk, R., Myszkowski, K., Seidel, H.-P., & Didyk, P. (2017). Towards a Quality Metric for Dense Light Fields. In 30th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (pp. 3720-3729). Los Alamitos, CA: IEEE Computer Society. doi:10.1109/CVPR.2017.396.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-E476-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-25BD-2
資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Adhikarla, Vamsi Kiran1, 著者           
Vinkler, Marek1, 著者           
Sumin, Denis1, 著者           
Mantiuk, Rafał2, 著者           
Myszkowski, Karol1, 著者           
Seidel, Hans-Peter1, 著者           
Didyk, Piotr1, 著者           
所属:
1Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047              
2External Organizations, ou_persistent22              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2016-12-05201720172017
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: BibTex参照ID: Vamsi2017
DOI: 10.1109/CVPR.2017.396
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 30th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition
開催地: Honolulu, HI, USA
開始日・終了日: 2017-07-21 - 2017-07-26

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: 30th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition
  省略形 : CVPR 2017
  副タイトル : Proceedings
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Los Alamitos, CA : IEEE Computer Society
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 3720 - 3729 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-1-5386-0458-8