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  Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy

Hieke, S. W., Dehm, G., & Scheu, C. (2016). Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy. In European Microscopy Congress 2016: Proceedings (pp. 203-204). Wiley-VCH Verlag GmbH & Co KGaA. doi:10.1002/9783527808465.EMC2016.5892.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hieke, Stefan Werner1, Autor           
Dehm, Gerhard2, Autor           
Scheu, Christina3, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              
3Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-12-20
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1002/9783527808465.EMC2016.5892
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: The 16th European Microscopy Congress (EMC 2016)
Veranstaltungsort: Lyon, France
Start-/Enddatum: 2016-08-28 - 2016-09-02

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: European Microscopy Congress 2016: Proceedings
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co KGaA
Seiten: 2 Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 203 - 204 Identifikator: -