Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on 
sapphire using electron microscopy

Hieke, Stefan Werner; Dehm, Gerhard; Scheu, Christina

doi:10.1002/9783527808465.EMC2016.5892

Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy

Hieke, S. W., Dehm, G., & Scheu, C. (2016). Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy. In European Microscopy Congress 2016: Proceedings (pp. 203-204). Wiley-VCH Verlag GmbH & Co KGaA. doi:10.1002/9783527808465.EMC2016.5892.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-059D-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6C00-6

資料種別: 会議論文

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Hieke, Stefan Werner¹, 著者
Dehm, Gerhard², 著者
Scheu, Christina³, 著者

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1Nanoanalytics and Interfaces, Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294
2Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398
3Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2016-12-20

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識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1002/9783527808465.EMC2016.5892

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出版物名: European Microscopy Congress 2016: Proceedings

種別: 会議論文集

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出版社, 出版地: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co KGaA

ページ: 2 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 203 - 204 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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