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  In situ electron microscopy – insights in solid state dewetting of epitaxial Al thin films on sapphire

Hieke, S. W., Willinger, M. G., Wang, Z.-J., Richter, G., Dehm, G., & Scheu, C. (2017). In situ electron microscopy – insights in solid state dewetting of epitaxial Al thin films on sapphire. In M. Laue (Ed.), Microscopy Conference 2017 (MC 2017) - Proceedings. Regensburg: Universität Regensburg.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hieke, Stefan Werner1, Autor           
Willinger, Marc Georg2, Autor           
Wang, Zhu-Jun2, Autor           
Richter, Gunther3, Autor           
Dehm, Gerhard4, Autor           
Scheu, Christina1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              
3Dept. Physical Intelligence, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_2054292              
4Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-09-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: URN: nbn:de:bvb:355-epub-361434
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy Conference 2017 (MC 2017)
Veranstaltungsort: Lausanne, Switzerland
Start-/Enddatum: 2017-08-21 - 2017-08-25

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy Conference 2017 (MC 2017) - Proceedings
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Laue, Michael1, Herausgeber
Affiliations:
1 Universität Regensburg, ou_persistent22            
Ort, Verlag, Ausgabe: Regensburg : Universität Regensburg
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -