Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  In-situ electron microscopy: Insights in solid state dewetting of epitaxial Al thin films on sapphire

Hieke, S. W., Willinger, M. G., Wang, Z.-J., Richter, G., Dehm, G., & Scheu, C. (2017). In-situ electron microscopy: Insights in solid state dewetting of epitaxial Al thin films on sapphire. Talk presented at Microscopy Conference 2017 – Dreiländertagung (MC 2017). Lausanne, Switzerland. 2017-08-21 - 2017-08-25.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Hieke, Stefan Werner1, Autor           
Willinger, Marc Georg2, Autor           
Wang, Zhu-Jun2, Autor           
Richter, Gunther3, Autor           
Dehm, Gerhard4, Autor           
Scheu, Christina1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              
3Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              
4Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-08-22
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: Microscopy Conference 2017 – Dreiländertagung (MC 2017)
Veranstaltungsort: Lausanne, Switzerland
Start-/Enddatum: 2017-08-21 - 2017-08-25

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle

einblenden: