Anwendung spektroskopischer Methoden zur Charakterisierung HF-angeregter 
negativer Ionenquellen (H-/D-)

Riegg, S.; Fantz, U.

Anwendung spektroskopischer Methoden zur Charakterisierung HF-angeregter negativer Ionenquellen (H^-/D^-)

Riegg, S., & Fantz, U. (2005). Anwendung spektroskopischer Methoden zur Charakterisierung HF-angeregter negativer Ionenquellen (H^-/D^-). Talk presented at Physik seit Einstein - 69. Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG) mit allen Fachverbänden und der Astronomischen Gesellschaft (AG). Berlin. 2005-03-04 - 2005-03-09.

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Riegg, S.¹, 著者
Fantz, U.², 著者

所属:
1Lehrstuhl für Experimentelle Plasmaphysik, Institut für Physik, Universität Augsburg, 86135 Augsburg, ou_persistent22
2Tokamak Edge and Divertor Physics (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856308

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