In situ Schichtdickenmessung von a-C:H-Schichten

Krenz, G.; Bohmeyer, W.; Fussmann, G.

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In situ Schichtdickenmessung von a-C:H-Schichten

Krenz, G., Bohmeyer, W., & Fussmann, G. (2005). In situ Schichtdickenmessung von a-C:H-Schichten. Poster presented at Physik seit Einstein - 69. Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG) mit allen Fachverbänden und der Astronomischen Gesellschaft (AG), Berlin.

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-0EB3-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-0EB4-6

Genre: Poster

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Eingeschränkt (Max Planck Institute for Plasma Physics, MPPL; )

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Krenz, G.¹, Autor
Bohmeyer, W.¹, Autor
Fussmann, G.¹, Autor

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1Plasma Diagnostics Group (HUB), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856324

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Sprache(n): deu - German

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Publikationsstatus: Keine Angabe

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Ort, Verlag, Ausgabe: -

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Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 210959

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Physik seit Einstein - 69. Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG) mit allen Fachverbänden und der Astronomischen Gesellschaft (AG)

Veranstaltungsort: Berlin

Start-/Enddatum: 2005-03-04 - 2005-03-09

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