Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und 
Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden

Dietrich, S.; Fantz, U.

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden

Dietrich, S., & Fantz, U. (2007). Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden. Poster presented at DPG AMOP-Frühjahrstagung, Düsseldorf.

Item is Freigegeben

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:

Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-197C-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-197D-9

Genre: Poster

ausblenden:

Urheber:
Dietrich, S.¹, Autor
Fantz, U.², Autor

Affiliations:
1Tokamak: Edge and Divertor Physics (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856308
2Tokamak Scenario Development (E1), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856321