Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und 
Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden

Dietrich, S.; Fantz, U.

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Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden

Dietrich, S., & Fantz, U. (2007). Messung der Elektronendichte mittels optischer Emissionsspektroskopie (OES) und Vergleich mit anderen diagnostischen Methoden. Poster presented at DPG AMOP-Frühjahrstagung, Düsseldorf.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-197C-A Version Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-197D-9

Genre: Poster

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Creators

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Creators:
Dietrich, S.¹, Author
Fantz, U.², Author

Affiliations:
1Tokamak: Edge and Divertor Physics (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856308
2Tokamak Scenario Development (E1), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856321

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Language(s): deu - German

Dates:

Publication Status: Not specified

Pages: -

Publishing info: -

Table of Contents: -

Rev. Type: -

Identifiers: eDoc: 313162
Other: Verhandl. DPG (VI) 42, 3, P 7.8 (2007)

Degree: -

Event

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Title: DPG AMOP-Frühjahrstagung

Place of Event: Düsseldorf

Start-/End Date: 2007-03-19 - 2007-03-23

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