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  Transfer of 2D Silica Films

Büchner, C., Heyde, M., & Freund, H.-J. (2018). Transfer of 2D Silica Films. In K., Wandelt (Ed.), Encyclopedia of Interfacial Chemistry (pp. 360-366). Amsterdam: Elsevier. doi:10.1016/B978-0-12-409547-2.14171-X.

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基本情報

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資料種別: 書籍の一部

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作成者

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 作成者:
Büchner, Christin1, 著者           
Heyde, Markus1, 著者           
Freund, Hans-Joachim1, 著者           
所属:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: 2D silica bilayers are coordinatively self-saturated oxide layers with an SiO2 stoichiometry and well-defined thickness. They interact weakly with their substrate and can be grown with amorphous, crystalline, or a mixed topology. Recently, a mechanical exfoliation method has been presented that allows transferring the vapor-deposited films from the growth substrate to another support material. Throughout this procedure, no significant material loss or damage was observed. Based on this transferability, the incorporation of 2D silica films in various applications is feasible.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2017-09-292018-04-232018
 出版の状態: 出版
 ページ: 7
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1016/B978-0-12-409547-2.14171-X
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Encyclopedia of Interfacial Chemistry
種別: 書籍
 著者・編者:
Wandelt, Klaus, 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: Amsterdam : Elsevier
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 360 - 366 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISBN: 978-0-12-809894-3
ISBN: 978-0-12-809739-7