High resolution scanning transmission electron microscopy (HR STEM) analysis of 
tungsten-doped amorphous carbon films

Rasinski, M.; Plocinski, T.; Adelhelm, C.; Balden, M.; Ciupinski, L.; Kurzydlowski, K. J.

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High resolution scanning transmission electron microscopy (HR STEM) analysis of tungsten-doped amorphous carbon films

Rasinski, M., Plocinski, T., Adelhelm, C., Balden, M., Ciupinski, L., & Kurzydlowski, K. J. (2010). High resolution scanning transmission electron microscopy (HR STEM) analysis of tungsten-doped amorphous carbon films. Poster presented at European Energy Conference, Barcelona.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-506B-E 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-506C-D

資料種別: ポスター

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Rasinski, M.¹, 著者
Plocinski, T.², 著者
Adelhelm, C.¹, 著者
Balden, M.¹, 著者
Ciupinski, L.², 著者
Kurzydlowski, K. J.², 著者

所属:
1Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856328
2Warsaw University of Technology, Faculty of Material Science and Engineering, Woloska 141, 02-507, Poland, ou_persistent22

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言語: eng - English

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出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 439071

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