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Datensatz

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  Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und fokusiertem Ionenstahl (FIB)

Balden, M. (2009). Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und fokusiertem Ionenstahl (FIB). Vorlesung Oberflächentechnik (SS 2009). Technische Universität München.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-5178-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0010-207A-1
Genre: Lehrmaterial

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Balden, M.1, Autor                 
Affiliations:
1Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856328              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): deu - German
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 442091
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Vorlesung Oberflächentechnik (SS 2009)
Veranstaltungsort: Technische Universität München
Start-/Enddatum: -

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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