Molybdenum-based Thin Films: Depth-resolved Analysis of the Bonding States by 
Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

Franzke, E.; Gorgoi, M.; Adelhelm, C.; Reinfried, N.; Kösterbauer, H.; Winkler, J.; Linke, C.; Balden, M.

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Molybdenum-based Thin Films: Depth-resolved Analysis of the Bonding States by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

Franzke, E., Gorgoi, M., Adelhelm, C., Reinfried, N., Kösterbauer, H., Winkler, J., Linke, C., & Balden, M. (2011). Molybdenum-based Thin Films: Depth-resolved Analysis of the Bonding States by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy. Poster presented at 3rd Joint BER II and BESSY II Users' Meeting, Berlin.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-85E9-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0010-2101-7

資料種別: ポスター

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Franzke, E., 著者
Gorgoi, M., 著者
Adelhelm, C.^{1, 2}, 著者
Reinfried, N., 著者
Kösterbauer, H., 著者
Winkler, J., 著者
Linke, C., 著者
Balden, M.^{1, 2}, 著者

所属:
1Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856328
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327

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言語: eng - English

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出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 573984

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