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  Density profile measurement with X-mode lower cut-off reflectometry in ASDEX Upgrade

Varela, P., Manso, M., & ASDEX Upgrade Team (2012). Density profile measurement with X-mode lower cut-off reflectometry in ASDEX Upgrade. Talk presented at 19th Topical Conference on High-Temperature Plasma Diagnostics (HTPD 2012). Monterey, CA. 2012-05-06 - 2012-05-10.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-89F4-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-89F5-1
資料種別: 講演

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作成者

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 作成者:
Varela, P., 著者
Manso, M., 著者
ASDEX Upgrade Team, 著者  
所属:

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付:
 出版の状態: 不明
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 610340
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 19th Topical Conference on High-Temperature Plasma Diagnostics (HTPD 2012)
開催地: Monterey, CA
開始日・終了日: 2012-05-06 - 2012-05-10

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出版物

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