Monteiro, C. M. B., Amaro, F. D., Sousa, M. S., Abdou-Ahmed, M., Amaro, P., Biraben, F., Chen, T., Covita, D. S., Dax, A. J., Diepold, M., Fernandes, L. M. P., Franke, B., Galtier, S., Gouvea, A. L., Götzfried, J., Graf, T., Hänsch, T. W., Hildebrandt, M., Indelicato, P., Julien, L., Kirch, K., Knecht, A., Kottmann, F., Krauth, J. J., Liu, Y., Machado, J., Mulhauser, F., Naar, B., Nebel, T., Nez, F., Pohl, R., Santos, J. P., dos Santos, J. M. F., Schuhmann, K., Szabo, C. I., Taqqu, D., Veloso, J. F. C. A., & Antognini, A. (2018). On the double peak structure of avalanche photodiode response to monoenergetic x-rays at various temperatures and bias voltages. Journal of Instrumentation, 13:. doi:10.1088/1748-0221/13/01/C01033.