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  Tiefenaufgelöste chemische Analyse von Mehrkomponenten-Oberflächenreaktionen

Rädel, S., Köppen, M., Brinkmann, J., Oberkofler, M., Riesch, J., Löchel, H., et al. (2011). Tiefenaufgelöste chemische Analyse von Mehrkomponenten-Oberflächenreaktionen. Talk presented at DGM FA Strahllinien. BAM Berlin. 2011-05-07 - 2011-05-07.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Rädel, S.1, Autor
Köppen, M.2, Autor           
Brinkmann, J.3, 4, Autor           
Oberkofler, M.3, 4, Autor           
Riesch, J.3, 4, Autor           
Löchel, H.1, Autor
Bauer, M.5, Autor           
Vollmer, A.1, Autor
Linsmeier, Ch.3, 4, Autor           
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2W7-X: Engineering (EN), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856300              
3Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856328              
4Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327              
5External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): deu - German
 Datum:
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 570020
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: DGM FA Strahllinien
Veranstaltungsort: BAM Berlin
Start-/Enddatum: 2011-05-07 - 2011-05-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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