Depth-resolved quantitative XPS analysis of oxygen ion interactions wizh a 
beryllium-tungsten alloy

Köppen, M.; Oberkofler, M.; Riesch, J.; Schmid, K.; Vollmer, A.; Linsmeier, Ch.

Depth-resolved quantitative XPS analysis of oxygen ion interactions wizh a beryllium-tungsten alloy

Köppen, M., Oberkofler, M., Riesch, J., Schmid, K., Vollmer, A., & Linsmeier, C. (2013). Depth-resolved quantitative XPS analysis of oxygen ion interactions wizh a beryllium-tungsten alloy. Talk presented at 21st International Conference on Ion-Surface Interactions (ISI-2013). Yaroslavl. 2013-08-22 - 2013-08-26.

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資料種別: 講演

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Köppen, M.¹, 著者
Oberkofler, M.², 著者
Riesch, J.², 著者
Schmid, K.², 著者
Vollmer, A.³, 著者
Linsmeier, Ch.², 著者

所属:
1W7-X: Engineering (EN), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856300
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327
3Institut für Energie- und Klimaforschung – Plasmaphysik, Forschungszentrum Jülich, Association EURATOM-FZJ, Trilateral Euregio Cluster, 52425 Jülich, Germany; Helmholtz Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Wilhelm-Conrad-Röntgen Campus BESSY II, Albert-Einstein-Str. 15, 12489 Berlin, Germany, ou_persistent22

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