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  Creep Behavior and Microstructural Changes During Short-Term Creep in a γ-TiAl Based Alloy with Fully Lamellar Microstructure

Chatterjee, A., Clemens, H., Dehm, G., Mecking, H., Kestler, H., & Arzt, E. (2003). Creep Behavior and Microstructural Changes During Short-Term Creep in a γ-TiAl Based Alloy with Fully Lamellar Microstructure. In Gamma Titanium Aluminides 2003 (pp. 425-430).

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Chatterjee, Anita1, 2, Autor           
Clemens, Helmut3, Autor           
Dehm, Gerhard1, Autor           
Mecking, Heinrich4, Autor           
Kestler, Heinrich5, Autor           
Arzt, Eduard1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2GfE Metalle und Materialien GmbH, Hoefener Str. 45, D-90431 Nuremberg, Germany, persistent22              
3GKSS Research Center, Max-Planck-Strasse 1, D-21502 Geesthacht, Germany, persistent22              
4Werkstoffphysik- und Technologie, TU Hamburg Harburg, Eisendorferstr., D-21079 Hamburg, Germany, persistent22              
5Plansee Aktiengesellschaft, A-6600 Reutte/Tirol, Austria, persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Gamma Titanium Aluminides 2003
Veranstaltungsort: San Diego, CA, USA
Start-/Enddatum: 2003-03-02 - 2003-03-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Gamma Titanium Aluminides 2003
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 425 - 430 Identifikator: -