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  Creep Behavior and Microstructural Stability of Lamellar gamma-TiAl (Cr,Mo,Si,B) with Extremely Fine Lamellar Spacing

Schillinger, W., Zhang, D., Dehm, G., Bartels, A., & Clemens, H. (2001). Creep Behavior and Microstructural Stability of Lamellar gamma-TiAl (Cr,Mo,Si,B) with Extremely Fine Lamellar Spacing. In Materials Research Society Symposium - Proceedings (pp. N141-N146).

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schillinger, Wolfram1, Autor           
Zhang, Dezhi1, Autor           
Dehm, Gerhard2, Autor           
Bartels, Arno3, Autor           
Clemens, Helmut2, Autor           
Affiliations:
1Materials Science and Technology, TUHH, Hamburg, Germany, persistent22              
2Materials Science and Technology, TUHH, Hamburg, Germany, ou_persistent22              
3Materials Science and Technology, Technical University Hamburg-Harburg, D-21073 Hamburg, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 6
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Materials Research Society Symposium - High Temperature Ordered Intermetallic Alloys IX, Code 59218
Veranstaltungsort: Boston, MA, USA
Start-/Enddatum: 2000-11-27 - 2000-11-29

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Research Society Symposium - Proceedings
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 646 Artikelnummer: - Start- / Endseite: N141 - N146 Identifikator: -