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  Structure of Copper/Sapphire Interfaces

Dehm, G., Rühle, M., Ding, G., & Raj, R. (1994). Structure of Copper/Sapphire Interfaces. In B. Jouffrey (Ed.), Electron Microscopy 1994: Proceedings of the 13th International Congress on Electron Microscopy, Applications in Materials Sciences (pp. 277-278). Les Editions de Physique; 1994.

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, Autor           
Rühle, Manfred2, Autor           
Ding, G.3, Autor           
Raj, Rishi3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Department of Materials Science and Engineering, Cornell University, Bard Hall, Ithaca, NY, 14853-1501, USA, persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1994
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 13th International Congress on Electron Microscopy
Veranstaltungsort: Paris, France
Start-/Enddatum: 1994-07-17 - 1994-07-22

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Electron Microscopy 1994 : Proceedings of the 13th International Congress on Electron Microscopy, Applications in Materials Sciences
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Jouffrey, B.1, Herausgeber
Colliex, C., Autor
Affiliations:
1 Editions Physique, Avenue du Hoggar, Zone Industrielle Courtaboeuf, BP112 91944 Les Ulis, France, ou_persistent22            
Ort, Verlag, Ausgabe: Les Editions de Physique; 1994
Seiten: - Band / Heft: 2A-2B Artikelnummer: - Start- / Endseite: 277 - 278 Identifikator: -