Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields

Parviainen, Stefan; Dagan, Michal; Katnagallu, Shyam; Gault, Baptiste; Moody, Michael P.; Vurpillot, François

doi:10.1017/S1431927617003889

Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields

Parviainen, S., Dagan, M., Katnagallu, S., Gault, B., Moody, M. P., & Vurpillot, F. (2017). Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields. In Proceedings of Microscopy & Microanalysis 2017 (pp. 644-645). doi:10.1017/S1431927617003889.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-4AA7-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-4AAD-A

資料種別: 会議論文

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Parviainen, Stefan¹, 著者
Dagan, Michal², 著者
Katnagallu, Shyam³, 著者
Gault, Baptiste³, 著者
Moody, Michael P.⁴, 著者
Vurpillot, François⁵, 著者

所属:
1GPM UMR CNRS 6634, Université de Rouen, Saint-Etienne du Rouvray, France, persistent22
2Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford, OX1 3PH UK, persistent22
3Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
4Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX13PH, UK, ou_persistent22
5GPM UMR 6634 CNRS, Université et INSA de Rouen, Rouen, France, persistent22

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2017-08-04出版: 2017

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識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1017/S1431927617003889

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出版物名: Proceedings of Microscopy & Microanalysis 2017

種別: 会議論文集

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ページ: - 巻号: 23 (S1) 通巻号: - 開始・終了ページ: 644 - 645 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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