Transmission electron microscopy – a versatile tool to study the microstructure 
of HT-PEMFC

Scheu, Christina

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Transmission electron microscopy – a versatile tool to study the microstructure of HT-PEMFC

Scheu, C. (2016). Transmission electron microscopy – a versatile tool to study the microstructure of HT-PEMFC. Talk presented at Materials Science 2016. Atlanta, GA, USA. 2016-09-12 - 2016-09-14.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-78B6-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-78B7-A

資料種別: 講演

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Scheu, Christina^{1, 2}, 著者

所属:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294
2Materials Analytics, RWTH Aachen University, Kopernikusstrasse 10, Aachen, Germany, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: 作成: 2016-09

出版の状態: 不明

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