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  In-situ TEM straining experiments of Al films on polyimide using a novel FIB design for specimen preparation

Dehm, G., Legros, M., & Heiland, B. (2006). In-situ TEM straining experiments of Al films on polyimide using a novel FIB design for specimen preparation. Journal of Materials Science, 41(14), 4484-4489.

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, 2, Autor           
Legros, Marc3, Autor           
Heiland, Birgit4, Autor           
Affiliations:
1Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Austria, ou_persistent22              
2Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Leoben, Austria, ou_persistent22              
3CEMES-CNRS, 29 rue J. Marvig, 31055 Toulouse, France, ou_persistent22              
4Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006-07
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 297819
ISI: 000239720900014
DOI: 10.1007/s10853-006-0087-7
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 10th Meeting on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science
Veranstaltungsort: Maastricht, The Netherlands
Start-/Enddatum: 2005-09-25 - 2005-09-30

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Science
  Kurztitel : JMS
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY, USA : Springer
Seiten: - Band / Heft: 41 (14) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4484 - 4489 Identifikator: ISSN: 0022-2461
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925415936_1