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  A microindentation method for estimating interfacial shear strength and its use in studying the influence of titanium transition layers on the interface strength of epitaxial copper films on sapphire

Dehm, G., Rühle, M., Conway, H. D., & Raj, R. (1997). A microindentation method for estimating interfacial shear strength and its use in studying the influence of titanium transition layers on the interface strength of epitaxial copper films on sapphire. Acta Materialia, 45(2), 489-499. doi:10.1016/S1359-6454(96)00213-3.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, Autor           
Rühle, Manfred2, Autor           
Conway, Harry Donald3, Autor           
Raj, Rishi4, 5, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Depts. of Theor. and Appl. Mechanics, Materials Science and Engineering, Cornell University, Ithaca, NY 14853, USA, persistent22              
4Department of Materials Science and Engineering, Cornell University, Bard Hall, Ithaca, NY, 14853-1501, USA, persistent22              
5University of Colorado, Boulder, CO 80309-0427, USA, persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1997-02
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/S1359-6454(96)00213-3
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Acta Materialia
  Kurztitel : Acta Mater.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 45 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 489 - 499 Identifikator: ISSN: 1359-6454
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928603100