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  Electron Energy-Loss Spectroscopy at Cu/Al2O3 and Ti/Al2O3 Interfaces

Scheu, C., Dehm, G., Müllejans, H., & Rühle, M. (1996). Electron Energy-Loss Spectroscopy at Cu/Al2O3 and Ti/Al2O3 Interfaces. Materials Science Forum, 207-209(1), 181-184. doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.207-209.181.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9530-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9532-E
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Scheu, Christina1, 著者           
Dehm, Gerhard2, 著者           
Müllejans, Harald1, 著者           
Rühle, Manfred1, 著者           
所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 1996
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.207-209.181
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Materials Science Forum
  省略形 : Mater. Sci. Forum
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 207-209 (1) 通巻号: - 開始・終了ページ: 181 - 184 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0255-5476
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928550320