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  Electron Energy-Loss Spectroscopy at Cu/Al2O3 and Ti/Al2O3 Interfaces

Scheu, C., Dehm, G., Müllejans, H., & Rühle, M. (1996). Electron Energy-Loss Spectroscopy at Cu/Al2O3 and Ti/Al2O3 Interfaces. Materials Science Forum, 207-209(1), 181-184. doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.207-209.181.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9530-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9532-E
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Scheu, Christina1, Autor           
Dehm, Gerhard2, Autor           
Müllejans, Harald1, Autor           
Rühle, Manfred1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1996
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.207-209.181
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Science Forum
  Kurztitel : Mater. Sci. Forum
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 207-209 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 181 - 184 Identifikator: ISSN: 0255-5476
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928550320