Quantification of Irradiation Damage Generated During HRTEM with 1250keV 
Electrons

Dehm, Gerhard; Nadarzinski, K.; Ernst, Frank; Rühle, Manfred

doi:10.1016/0304-3991(96)00025-3

Quantification of Irradiation Damage Generated During HRTEM with 1250keV Electrons

Dehm, G., Nadarzinski, K., Ernst, F., & Rühle, M. (1996). Quantification of Irradiation Damage Generated During HRTEM with 1250keV Electrons. Ultramicroscopy, 63(1), 49-55. doi:10.1016/0304-3991(96)00025-3.

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資料種別: 学術論文

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Dehm, Gerhard¹, 著者
Nadarzinski, K.², 著者
Ernst, Frank³, 著者
Rühle, Manfred³, 著者

所属:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655
2Max-Planck-Inst. fur Metallforschung, Inst. für Werkstoffwissenschaft, Seestrasse 92, D-70174 Stuttgart, Germany, persistent22
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

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言語: eng - English

日付: 出版: 1996-04

出版の状態: 出版

ページ: -

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目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1016/0304-3991(96)00025-3

学位: -

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出版物名: Ultramicroscopy

省略形 : Ultramicroscopy

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 63 (1) 通巻号: - 開始・終了ページ: 49 - 55 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0304-3991
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925512451

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