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  Abrupt change in the structure of self-assembled monolayers upon metal evaporation

Tai, Y., Shaporenko, A., Eck, W., Grunze, M., & Zharnikov, M. (2004). Abrupt change in the structure of self-assembled monolayers upon metal evaporation. Applied Physics Letters, 85(25), 6257-6259. doi:10.1063/1.1842361.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-ADB0-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-ADB1-4
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
ApplPhysLett_85_2004_6257.pdf (beliebiger Volltext), 148KB
 
Datei-Permalink:
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Name:
ApplPhysLett_85_2004_6257.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Medical Research, MHMF; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
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Externe Referenzen

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externe Referenz:
http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.1842361 (beliebiger Volltext)
Beschreibung:
-
OA-Status:
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https://doi.org/10.1063/1.1842361 (beliebiger Volltext)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Tai, Y., Autor
Shaporenko, A., Autor
Eck, W., Autor
Grunze, Michael1, Autor           
Zharnikov, M., Autor
Affiliations:
1Cellular Biophysics, Max Planck Institute for Medical Research, Max Planck Society, ou_2364731              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We have studied the interaction of vapor-deposited nickel with thiol-terminated self-assembled monolayers (SAMs) of oligophenylthiolates on Au, which can be considered as model systems for molecular electronics. Instead of usually observed disordering of the molecular layer, a drastic decrease in molecular tilt was observed at the initial stage of the deposition. This was attributed to the formation of Ni-thiol complexes at the SAM–ambient interface. The reorientation resulted in the appearance of transient channels for the metal diffusion into the SAM and to the SAM–substrate interface.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-07-272004-10-272004-12-15
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 3
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.1842361
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 85 (25) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 6257 - 6259 Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223