Supervision on multi-dimensional data from electron microscopy

Zhang, Siyuan; Scheu, Christina

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Supervision on multi-dimensional data from electron microscopy

Zhang, S., & Scheu, C. (2018). Supervision on multi-dimensional data from electron microscopy. Poster presented at BiGmaxWorkshop 2018 on Big-Data-DrivenMaterials Science, Irsee, Germany.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-D809-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-D80A-1

資料種別: ポスター

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Zhang, Siyuan¹, 著者
Scheu, Christina¹, 著者

所属:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294

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言語: eng - English

日付: 作成: 2018-04-10

出版の状態: 不明

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