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  Correlative atom probe tomography and in-situ scanning photoemission electron microscopy applied to catalytically active materials

Schweinar, K., Beeg, S., Kerger, P., Corrêa da Silva, C., Cao, J., Amati, M., et al. (2018). Correlative atom probe tomography and in-situ scanning photoemission electron microscopy applied to catalytically active materials. Poster presented at Atom Probe Tomography and Microscopy 2018, Gaitherburg, MD, USA.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schweinar, Kevin1, Autor           
Beeg, Sebastian2, Autor           
Kerger, Philipp3, Autor           
Corrêa da Silva, Cauê3, Autor           
Cao, Jing4, Autor           
Amati, Matteo5, Autor           
Gregoratti, Luca6, Autor           
Zeller, Patrick7, Autor           
Schlögl, Robert2, 4, Autor           
Raabe, Dierk8, Autor           
Greiner, Mark T.2, Autor           
Gault, Baptiste1, Autor           
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Heterogeneous Reactions, Max-Planck-Institute for Chemical Energy Conversion , Stiftstr. 34 - 36 45470 Mülheim an der Ruhr, Germany, ou_persistent13              
3Corrosion, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2074315              
4Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              
5Elettra-Sincrotrone Trieste S.C.p.A., SS14-Km 163.5, Trieste, Italy, ou_persistent22              
6Elettra-Sincrotrone Trieste, Strada Statale 14, Basovizza, Italy, ou_persistent22              
7Department of Chemistry and Center for NanoScience (CeNS), Ludwig-Maximilians- Universität München, Butenandtstr. 5-11, D-81377 Munich, Germany, ou_persistent22              
8Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018-06
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Atom Probe Tomography and Microscopy 2018
Veranstaltungsort: Gaitherburg, MD, USA
Start-/Enddatum: 2018-06-10 - 2018-06-15

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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