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  Huygens STED deconvolution increases signal-to-noise and image resolution towards 22 nm.

Schoonderwoert, V., Dijkstra, R., Lukinavicius, G., & Kobler, O. (2013). Huygens STED deconvolution increases signal-to-noise and image resolution towards 22 nm. Microscopy Today, 21(6), 38-44. doi:10.1017/S1551929513001089.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-E46E-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-E470-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schoonderwoert, V., Autor
Dijkstra, R., Autor
Lukinavicius, G.1, Autor           
Kobler, O., Autor
Affiliations:
1Laboratory of Chromatin Labeling and Imaging, Max Planck Institute for Biophysical Chemistry, Max Planck Society, ou_2616691              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013-11-052013-11
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1551929513001089
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy Today
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 21 (6) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 38 - 44 Identifikator: -