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Ion Beam Analysis of Samples from Fusion Devices and Needs for Advanced Simulations

Mayer, M. (2018). Ion Beam Analysis of Samples from Fusion Devices and Needs for Advanced Simulations. Talk presented at Technical Meeting on Advanced Methodologies for the Analysis of Materials in Energy Applications Using Ion Beam Accelerators. Vienna. 2018-10-08 - 2018-10-11.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-5A66-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-5A67-6

Genre: Vortrag

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Urheber

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Urheber:
Mayer, M.¹, Autor

Affiliations:
1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327

Inhalt

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Eingereicht: 2018

Publikationsstatus: Eingereicht

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: -

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Technical Meeting on Advanced Methodologies for the Analysis of Materials in Energy Applications Using Ion Beam Accelerators

Veranstaltungsort: Vienna

Start-/Enddatum: 2018-10-08 - 2018-10-11

Entscheidung

Projektinformation

Quelle