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  Electron Channelling Contrast Imaging (ECCI): An Amazing Tool for Observations of Crystal Lattice Defects in Bulk Samples

Zaefferer, S. (2017). Electron Channelling Contrast Imaging (ECCI): An Amazing Tool for Observations of Crystal Lattice Defects in Bulk Samples. Talk presented at M&M 2017. St. Louis, MO, USA. 2017-08-06 - 2017-08-10.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zaefferer, Stefan1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-08
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: M&M 2017
Veranstaltungsort: St. Louis, MO, USA
Start-/Enddatum: 2017-08-06 - 2017-08-10
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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