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  Transverse Kerker Scattering for Ångström Localization of Nanoparticles

Bag, A., Neugebauer, M., Wozniak, P., Leuchs, G., & Banzer, P. (2018). Transverse Kerker Scattering for Ångström Localization of Nanoparticles. arXiv:1804.10176.

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Basisdaten

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Genre: Forschungspapier

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Transverse Kerker Scattering for Ångström Localization of Nanoparticles-arxiv.pdf (Preprint), 2MB
Name:
Transverse Kerker Scattering for Ångström Localization of Nanoparticles-arxiv.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bag, Ankan1, 2, Autor           
Neugebauer, Martin1, Autor           
Wozniak, Pawel1, Autor           
Leuchs, Gerd3, Autor           
Banzer, Peter1, Autor           
Affiliations:
1Interference Microscopy and Nanooptics, Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364700              
2International Max Planck Research School, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, Staudtstraße 2, 91058 Erlangen, DE, ou_2364697              
3Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364698              

Inhalt

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Schlagwörter: Transverse Kerker , Scattering , Ångström Localization , Nanoparticles
 Zusammenfassung: Angstrom precision localization of a single nanoantenna is a crucial step towards advanced nanometrology, medicine and biophysics. Here, we show that single nanoantenna displacements down to few Angstroms can be resolved with sub-Angstrom precision using an all-optical method. We utilize the tranverse Kerker scattering scheme where a carefully structured light beam excites a combination of multipolar modes inside a dielectric nanoantenna, which then upon interference, scatters directionally into the far-field. We spectrally tune our scheme such that it is most sensitive to the change in directional scattering per nanoantenna displacement. Finally, we experimentally show that antenna displacement down to 3 A˚ is resolvable with a localization precision of 0.6 A˚.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018-04-26
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: arXiv: 1804.10176v1
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: arXiv:1804.10176
Genre der Quelle: Kommentar
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Cornell University Library
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -