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  High-contrast topography-free sample for near-field optical microscopy

Kalkbrenner, T., Graf, M., Durkan, C., Mlynek, J., & Sandoghdar, V. (2000). High-contrast topography-free sample for near-field optical microscopy. Applied Physics Letters, 76, 1206-1208. doi:10.1063/1.125984.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-9BD5-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0007-95C8-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kalkbrenner, Thomas1, Autor
Graf, M1, Autor
Durkan, C1, Autor
Mlynek, Jürgen1, Autor
Sandoghdar, Vahid2, Autor           
Affiliations:
1external, ou_persistent22              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: The issue of topography artifacts has proven to play a very important role in interpreting images recorded in scanning near-field optical microscopy. We report on the fabrication and characterization of samples with essentially no topographic features while possessing very high optical contrast on the nanometric lateral scale. These samples open the door to routine and uncontroversial examinations of the resolution obtained in a scanning near-field optical microscope. (C) 2000 American Institute of Physics. [S0003-6951(00)04409-0].

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.125984
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 76 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1206 - 1208 Identifikator: ISSN: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223