Measurement results of different options for spectroscopic X-ray DEPFET sensors

Treberspurg, W.; Andritschke, R.; Hauser, G; Lechner, P.; Meidinger, N.; Ninkovic, J.; Müller-Seidlitz, J.; Schopper, F.

doi:10.1088/1748-0221/13/09/P09014

Measurement results of different options for spectroscopic X-ray DEPFET sensors

Treberspurg, W., Andritschke, R., Hauser, G., Lechner, P., Meidinger, N., Ninkovic, J., Müller-Seidlitz, J., & Schopper, F. (2018). Measurement results of different options for spectroscopic X-ray DEPFET sensors. Journal of Instrumentation, 13(9):. doi:10.1088/1748-0221/13/09/P09014.

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資料種別: 学術論文

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Treberspurg, W.¹, 著者
Andritschke, R.¹, 著者
Hauser, G¹, 著者
Lechner, P., 著者
Meidinger, N.¹, 著者
Ninkovic, J., 著者
Müller-Seidlitz, J.¹, 著者
Schopper, F., 著者

所属:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890

内容説明

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2018-09

出版の状態: オンラインで出版済み

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査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1088/1748-0221/13/09/P09014
その他: LOCALID: 3015

学位: -

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出版物名: Journal of Instrumentation

省略形 : J. Instrum.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: 20 巻号: 13 (9) 通巻号: P09014 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1748-0221

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