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  Scanning probe microscopy for energy-related materials

Berger, R., Grevin, B., Leclere, P., & Zhang, Y. (2019). Scanning probe microscopy for energy-related materials. Beilstein Journal of Nanotechnology, 10: 134. 132. doi:10.3762/bjnano.10.12.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-D246-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-D24C-C
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Berger, Rüdiger1, Autor           
Grevin, Benjamin2, Autor
Leclere, Philippe3, Autor
Zhang, Yi4, Autor
Affiliations:
1Dept. Butt: Physics at Interfaces, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800286              
2CEA Grenoble INAC SYMMES, UMR5819 CEA CNRS UGA, Grenoble, France, ou_persistent22              
3Univ Mons UMONS, CIRMAP, Mons, Belgium, ou_persistent22              
4Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Appl Phys, Shanghai, Peoples R China, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.3762/bjnano.10.12
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Beilstein Journal of Nanotechnology
  Kurztitel : Beilstein J. Nanotechnol.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Frankfurt am Main : Beilstein-Institut
Seiten: - Band / Heft: 10 Artikelnummer: 134 Start- / Endseite: - 132 Identifikator: ISSN: 2190-4286
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/2190-4286