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  Ptychographic Characterization of an Intense High-Harmonic-seeded Femtosecond Soft X-ray Laser

Zürch, M., Tuitje, F., Helk, T., Gautier, J., Tissandier, F., Goddet, J.-P., et al. (2019). Ptychographic Characterization of an Intense High-Harmonic-seeded Femtosecond Soft X-ray Laser. In Proceedings Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO). Washington, D.C.: OSA. doi:10.1364/CLEO_SI.2019.SF3I.3.

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zürch, Michael1, 2, 3, 4, Autor           
Tuitje, F.2, 3, Autor
Helk, T.2, 3, Autor
Gautier, J.5, Autor
Tissandier, F.5, Autor
Goddet, J.-P.5, Autor
Oliva, E.6, 7, Autor
Guggenmos, Alexander4, 8, 9, Autor
Kleineberg, U.8, 9, Autor
Sebban, S.6, Autor
Spielmann, C.2, 3, Autor
Affiliations:
1Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              
2Institute for Optics and Quantum Electronics Jena, Abbe Center of Photonics, 07743 Jena, Germany, ou_persistent22              
3Helmholtz Institute Jena, 07743 Jena, Germany, ou_persistent22              
4University of California at Berkeley, Department of Chemistry, Berkeley, CA94720, USA, ou_persistent22              
5Laboratoire d’optique appliquée – ENSTA-ParisTech, 91762 Palaiseau, France, ou_persistent22              
6Departamento de Ingeniería Energética, ETSI Industriales, Universidad Politécnica de Madrid, 28006 Madrid, Spain, ou_persistent22              
7Instituto de Fusión Nuclear, Universidad Politécnica de Madrid, 28006 Madrid, Spain, ou_persistent22              
8Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445564              
9Ludwig-Maximilians-Universität München, 85748 Garching, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We report the direct wavefront characterization of an intense ultrafast high-harmonic-seeded soft X-ray laser (λ=32.8 nm) and monitor the laser plasma amplifier depending on the arrival time of the seed pulses by high-resolution ptychographic imaging.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1364/CLEO_SI.2019.SF3I.3
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)
Veranstaltungsort: San Jose, Calif. USA
Start-/Enddatum: 2019-05-05 - 2019-05-10

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Washington, D.C. : OSA
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: SF3I.3 Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 978-1-943580-57-6