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  Tailoring metal film texture by use of high atomic mobility at metalsemiconductor interfaces

Wang, J., Schützendübe, P., Qiu, Y., Wang, J., Huang, Y., Liu, Y., et al. (2019). Tailoring metal film texture by use of high atomic mobility at metalsemiconductor interfaces. Applied Surface Science, 475, 117-123. doi:10.1016/j.apsusc.2018.12.260.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wang, Jing1, Autor
Schützendübe, Peter2, Autor           
Qiu, Yongxing3, Autor
Wang, Jiangyong4, Autor
Huang, Yuan1, Autor
Liu, Yongchang1, Autor
Wang, Zumin1, Autor
Affiliations:
1School of Materials Science and Engineering, Tianjin University, Tianjin 300350, China, ou_persistent22              
2Central Scientific Facility Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              
3Suzhou Institute of Nano-tech and Nano-bionics (SINANO), Chinese Academy of Science, Suzhou 215123, China, ou_persistent22              
4Department of Physics, Shantou University, Shantou 515063, China, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: ZWE Materialien
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018-12-282019-05-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.apsusc.2018.12.260
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
  Kurztitel : Appl. Surf. Sci.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : Elsevier B.V.
Seiten: - Band / Heft: 475 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 117 - 123 Identifikator: ISSN: 0169-4332
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928576736