Entwicklung eines Röntgen-Sicht-Systems für die Feinstrahltechnik und 
Profilanalyse und seine Anwendungen in der Kristallographie

Denzer, Peter

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Entwicklung eines Röntgen-Sicht-Systems für die Feinstrahltechnik und Profilanalyse und seine Anwendungen in der Kristallographie

Denzer, P. (1970). Entwicklung eines Röntgen-Sicht-Systems für die Feinstrahltechnik und Profilanalyse und seine Anwendungen in der Kristallographie. PhD Thesis, Freie Universität, Berlin.

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-89A3-9 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-89A4-8

Genre: Hochschulschrift

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Urheber:
Denzer, Peter¹, Autor
Hosemann, Rolf¹, Gutachter
Bradaczek, H., Gutachter

Affiliations:
1Fritz Haber Institute, Max Planck Society, Faradayweg 4-6, 14195 Berlin, DE, ou_24021

Inhalt

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Sprache(n): deu - German

Datum: Angenommen: 1970-12-15

Publikationsstatus: Angenommen

Seiten: 45

Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Freie Universität

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: -

Art des Abschluß: Doktorarbeit

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