Entwicklung eines Röntgen-Sicht-Systems für die Feinstrahltechnik und 
Profilanalyse und seine Anwendungen in der Kristallographie

Denzer, Peter

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Entwicklung eines Röntgen-Sicht-Systems für die Feinstrahltechnik und Profilanalyse und seine Anwendungen in der Kristallographie

Denzer, P. (1970). Entwicklung eines Röntgen-Sicht-Systems für die Feinstrahltechnik und Profilanalyse und seine Anwendungen in der Kristallographie. PhD Thesis, Freie Universität, Berlin.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-89A3-9 Version Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-89A4-8

Genre: Thesis

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Creators:
Denzer, Peter¹, Author
Hosemann, Rolf¹, Referee
Bradaczek, H., Referee

Affiliations:
1Fritz Haber Institute, Max Planck Society, Faradayweg 4-6, 14195 Berlin, DE, ou_24021

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Language(s): deu - German

Dates: Accepted: 1970-12-15

Publication Status: Accepted / In Press

Pages: 45

Publishing info: Berlin : Freie Universität

Table of Contents: -

Rev. Type: -

Identifiers: -

Degree: PhD

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