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  Novel comparative measurement of H- beam divergences at the BATMAN Upgrade test facility: single beamlet and a group of beamlets

Wimmer, C., Bonomo, F., Hurlbatt, A., Schiesko, L., Fantz, U., Heinemann, B., et al. (2019). Novel comparative measurement of H- beam divergences at the BATMAN Upgrade test facility: single beamlet and a group of beamlets. Poster presented at 18th International Conference on Ion Sources (ICIS 2019), Lanzhou.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wimmer, C.1, Autor           
Bonomo, F.1, Autor           
Hurlbatt, A.1, Autor           
Schiesko, L.1, Autor           
Fantz, U.1, Autor           
Heinemann, B.1, Autor           
Orozco, G.1, Autor           
Agostini, M.2, Autor
Barbisan, M.2, Autor
Brombin, M.2, Autor
Delogu, R.2, Autor
Pimazzoni, A.2, Autor
Serianni, G.2, Autor
Ugoletti, M.2, Autor
Veltri, P.2, Autor
Affiliations:
1ITER Technology & Diagnostics (ITED), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856290              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019
 Publikationsstatus: Eingereicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 18th International Conference on Ion Sources (ICIS 2019)
Veranstaltungsort: Lanzhou
Start-/Enddatum: 2019-09-01 - 2019-09-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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