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  Improved serial sectioning workflow for multi-beam SEM applications – How to produce the ideal section for Volume EM

Tröger, C., Schulz, K., & Irsen, S. (2019). Improved serial sectioning workflow for multi-beam SEM applications – How to produce the ideal section for Volume EM. Poster presented at Microscopy Conference MC 2019, organized by DGE Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e. V. (German Society for Electron Microscopy), Berlin.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-C3B9-F 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0006-440A-3
資料種別: ポスター

ファイル

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:
2019_Tröger_EMA_Poster_ImprovedSerialSectioning_05-2019.pdf (全文テキスト(全般)), 33MB
ファイルのパーマリンク:
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-C3BB-D
ファイル名:
2019_Tröger_EMA_Poster_ImprovedSerialSectioning_05-2019.pdf
説明:
-
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MIMEタイプ / チェックサム:
application/pdf / [MD5]
技術的なメタデータ:
著作権日付:
-
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作成者

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 作成者:
Tröger, Carola1, 著者           
Schulz, Kathrin1, 著者
Irsen, Stephan1, 著者           
所属:
1Electron Microscopy and Analytics, Center of Advanced European Studies and Research (caesar), Max Planck Society, ou_2173680              

内容説明

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資料詳細

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 日付: 2019-09-05
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
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 識別子(DOI, ISBNなど): -
 学位: -

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イベント名: Microscopy Conference MC 2019, organized by DGE Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e. V. (German Society for Electron Microscopy)
開催地: Berlin
開始日・終了日: 2019-09-01 - 2019-09-05

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